金相分析儀利用提供的分析結果，對金屬或其它材料的基體組織、雜質含量、組織成分等進行、客觀地分析，為產(chǎn)品質量提供可靠的依據(jù)，可使企業(yè)質量控制更具科學依據(jù)，避免用戶因產(chǎn)品質量問題或生產(chǎn)廠家因質量糾紛、用戶索賠而帶來的損失，提高企業(yè)管理水平和對外形象。是企業(yè)從事科技新產(chǎn)品開發(fā)，產(chǎn)品質量監(jiān)控的有效工具！  

測量晶粒度是金相檢驗工作中經(jīng)常進行的檢驗項目。傳統(tǒng)的方法是參照有關標準中的標準圖片，采用與標準圖片相比較的方法評定出晶粒度級別，此方法簡便、速度快，但主觀上的誤差也比較大。若采用GB6394中規(guī)定的另外兩種方法，即面積法和截點法(仲裁方法)，雖然可獲得準確的測量結果，但這兩種方法使用起來很不方便，其繁瑣程度令人望而生畏。如果使用圖像分析儀采用截點法進行晶粒度測定，則可以直接而迅速地求出晶粒度級別。  

截點法是通過統(tǒng)計給定長度的測量網(wǎng)格上的晶界截數(shù)來測定晶粒度的，其晶粒度級別指數(shù)G的計算公式為：  

G=-3.2877+6.6439lg(M×N/L)  

式中：L-所使用的測量網(wǎng)格長度(mm)  

M-觀察用的放大倍數(shù)  

N-測量網(wǎng)格L上的截點數(shù)  

L、M為已知數(shù)，只需測得N，圖像分析儀就可以得出晶粒度級別。在實測工作時，由于晶粒內部可能存在各種析出物以及因腐蝕控制不當而造成晶界斷裂，給準確測定帶來一定的困難，需采用圖像分析儀中的腐蝕與膨脹功能，去除晶粒內的析出物和對晶界進行重建，以得到完整的晶粒圖像。
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